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专利名称：微结构光纤高分辨率三维折射率测试方法专利类型：发明专利发明人：苑立波,孟令知,李晟申请号：CN20191107.1申请日：20191108公开号：CN111198169A公开日：20200526
摘要：本发明提供的是一种微结构光纤高分辨率三维折射率测试方法。其特征是：它包括基于F‑P腔的数字全息图记录、数值重建、解包裹、误差处理、三维相位分布重建和三维折射率转换。本发明主要提供一种微结构光纤高分辨率三维折射率测试方法，相比传统的显微成像方法，具有更高的灵敏度。本发明具有结构简单、灵敏度高、测量精确的优点。本发明可用于微结构光纤的高分辨率三维显微成像，可广泛应用于光学透明物体的无损、无标记、非接触式的三维层析成像等。
申请人：桂林电子科技大学
地址：541004 广西壮族自治区桂林市桂林金鸡路1号
国籍：CN
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