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专利名称：基于线结构光的三维测量方法以及传感器专利类型：发明专利
发明人：曹民,张德津,林红,王新林,卢毅,李辉申请号：CN202011325067.4申请日：20201123公开号：CN112710250A公开日：20210427
摘要：本发明提供一种基于线结构光的三维测量方法以及传感器，该方法包括：接收各个传感头分别采集的待测物体的断面数据以及各个传感头分别对应的姿态数据，断面数据包括激光线对应待测物体表面的高程、灰度和激光线宽度；基于任一传感头的姿态数据，对该传感头采集的断面数据进行修正；将各个传感头分别对应的修正后的断面数据进行匹配和拼接，得到待测物体表面的三维点云。本发明提供的一种基于线结构光的三维测量方法以及传感器，增大了测量范围，实现了大断面或超大断面的测量，消除了传感头的测量姿态对断面数据的精度的影响，提高了断面数据的精度。
申请人：武汉光谷卓越科技股份有限公司
地址：430223 湖北省武汉市东湖高新区武大科技园4路6号
国籍：CN
代理机构：北京路浩知识产权代理有限公司
代理人：聂俊伟
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