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专利名称：一种适用于嵌入式系统的单元测试框架专利类型：发明专利
发明人：熊谱翔,朱天龙,赵军涛申请号：CN201910599425.1申请日：20190704公开号：CN110287126A公开日：20190927
摘要：本发明提供了一种适用于嵌入式系统的单元测试框架，用于解决当前嵌入式领域应用程序标准化测试的问题。所述单元测试框架包括标准测试接口模块、测试用例导出模块、测试命令解析模块、测试单元执行模块、日志模块和测试结果处理模块。其中测试用例导出模块将测试用例程序抽象为测试初始化模块、测试清理模块和测试用例程序入口模块，并利用链接器特性将测试用例程序导出到程序镜像中指定的代码段。所述单元测试框架使用标准C语言编写，实现了通用测试接口，降低了测试用例程序编写难度，提高了代码复用度，缩短了开发周期，适用于所有的嵌入式操作系统，并可以移植到没有使用嵌入式系统的裸机系统中使用。
申请人：上海睿赛德电子科技有限公司
地址：200000 上海市浦东新区自由贸易试验区达尔文路88号11幢5层
国籍：CN
代理机构：成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人：王霞
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