学生实验报告
院别 电子信息学院 班级 电科13B 姓名 施俊伊 学号 2013010202058 课程名称 电子技术实验 实验名称 实验一TTL门电路的逻辑功能测试 实验时间 2015年4 月8 日 指导教师 文毅 报 告 内 容 一、实验目的和任务 1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2.了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理介绍 实验中用到的基本门电路的符号为： 在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。 三、实验内容和数据记录 1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。 A B L 0 0 0 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 L 0 1 1 1 0 1 1 1 0 1 0 0 1 74LS08 74LS32 A 0 1 B 1 0 A 0 0 1 B 0 1 0 L 1 1 1 0 1 1 74LS04 74LS00 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 L 1 0 0 0 74LS02 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 L 0 1 1 0 74LS86 四、 实验结论与心得 五、实验步骤 1. 依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86做实验，在实验箱IC插座模块找到相应管脚数目的IC插座，插上并保持连接正常。 2. 对照附录的相应芯片引脚图，按照芯片的管脚分布图接线，注意确保电源VCC（+5V）输入脚和地输入脚的连接，芯片输入端连接到逻辑电平输出单元，通过逻辑电平输出单元控制输入电平，当逻辑输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。芯片输出端连接到逻辑电平显示单元，输出高电平时对应的发光二极管亮，否则不亮。 3. 按照芯片各逻辑门的真值表检验芯片的逻辑功能芯。 成绩
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