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专利名称：一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及
测量装置
专利类型：发明专利
发明人：朱军,俞本立,曹志刚,汪辉,甄胜来申请号：CN201610008795.X申请日：20160104公开号：CN105675258A公开日：20160615
摘要：本发明涉及高双折射光纤参数测量领域，具体为一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。现有的拍长测量方法，计算结果依赖的测量参量均较多，导致计算结果误差较大。为解决上述问题，本发明提供一种基于干涉级数的高双折射光纤拍长测量方法及测量装置。测量方法步骤如下：A.测量待测高双折射光纤的长度L；B.搭建以高双折射光纤快轴和慢轴构成干涉光路相位差的干涉仪；C.获得干涉光谱，采集相邻两个极值的波长，计算出极值波长所对应的干涉级数N；D.根据拍长计算公式计算出不同极值波长下的拍长。本发明所述的测量方法，依赖参量少，测量误差小，测量精度高。本发明提供的测量装置，结构简单，易于实现。
申请人：安徽大学
地址：230000 安徽省合肥市经开区九龙路111号(安徽大学新区)
国籍：CN
代理机构：无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人：张欢勇
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