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专利名称：用于分析荧光免疫斑点测定的方法和系统专利类型：发明专利
发明人：克里斯蒂安·斯梅德曼,约金·贾尔登,丹尼尔·佩利康,
波尔·德尔阿吉拉普拉,克拉斯·马格努森
申请号：CN201880053531.3申请日：20180627公开号：CN110998330A公开日：20200410
摘要：公开了一种用于分析荧光免疫斑点测定的方法。该方法包括：用至少一种激发光照射测定板的孔；针对每一种激发光，以原始图像格式捕获孔的至少一个图像；针对每一种激发光生成孔中的分析物释放分布的模型；以及将多个共同位置的荧光免疫斑点聚类为多分泌物荧光免疫斑点，其中针对所有生成的模型执行聚类，并且其中聚类确定了至少一个多分泌物荧光免疫斑点。针对给定的激发光生成分析物释放分布的模型包括：将孔的捕获的至少一个图像去卷积以估计预扩散分析物分布；以及基于其中的局部极大值来检测潜在分析物释放位点。
申请人：迈博太科产品公司
地址：瑞典纳卡
国籍：SE
代理机构：北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司
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