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嵌入式装置的芯片上模数转换器(ADC)线性度测试[发明专利]

来源:华佗小知识
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:嵌入式装置的芯片上模数转换器(ADC)线性度测试专利类型:发明专利

发明人:科马克·哈林顿,肯·穆舍吉安,安德鲁·阿勒曼申请号:CN201580009861.9申请日:20150302公开号:CN106063132A公开日:20161026

摘要:在所描述的实例中,测试ADC的线性度的方法包含接收(1310)指示ADC输入电压阶跃调整的触发信号,及当接收所述触发信号时读取(1311)ADC输出样本。所述ADC输出样本具有对应于N个离散ADC输出代码的N个整数值的值范围。此外,所述方法包含针对M个连续ADC输出代码计算(1312)代码发生的直方图。所述直方图包含对应于所述M个连续ADC输出代码的M个方格,其中M小于N。此外,所述方法包含根据所述直方图以K个ADC输出样本读数的间隔更新DNL值及INL值,及在更新所述DNL值及所述INL值之后将所述直方图移位(1330)一个ADC输出代码。

申请人:德州仪器公司

地址:美国德克萨斯州

国籍:US

代理机构:北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人:林斯凯

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