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专利名称：一种用于测量岩土力学性能的光学测量装置专利类型：实用新型专利发明人：吴学兵,张文明申请号：CN201920624537.3申请日：20190430公开号：CN210037423U公开日：20200207
摘要：本实用新型公开了一种用于测量岩土力学性能的光学测量装置，包括测量平台底座、固定在所述测量平台底座上的岩土容纳装置、与所述岩土容纳装置配合的盖体、用于对待测量岩土加力的加力装置、用于拍摄待测量岩土的变形照片的摄像机以及用于分析变形照片的图像分析模块，所述岩土容纳装置透明、且内部真空还具有向上的开口，所述岩土容纳装置的内部容纳有待测量岩土，所述盖体上设置有注水口和供加力装置穿过的杆孔。本实用新型通过注水或外部加力的方式实现人工模拟岩土的围压受力状态，然后利用摄像机拍摄在受力变形状态过程中岩土的变形照片，并通过图像分析模块进行图像分析后，实现了对岩土的力学性能测量，结构简单方便，而且更加直观明确。
申请人：智仿神州科技(武汉)有限公司
地址：430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室227号
国籍：CN
代理机构：武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：黄君军
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