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专利名称:电磁场测量方法、电磁场测量装置以及相位成像装
置
专利类型:发明专利
发明人:久武信太郎,永妻忠夫申请号:CN201680046975.5申请日:20160809公开号:CN107923933A公开日:20180417
摘要:电磁场测量装置(10),具备:第一探针(21)以及第二探针(22),为了测量电场,而被设置在空间中;参考信号发生器(31),生成参考信号;第一乘法器(32),将在第一探针(21)获得的信号与参考信号相乘;第二乘法器(34),将从第一乘法器(32)输出的信号与在第二探针(22)获得的信号相乘;以及同步检波器(35),从第二乘法器(34)输出的信号中,提取与参考信号同步的信号成分。
申请人:国立大学法阪大学
地址:日本大阪府
国籍:JP
代理机构:永新专利商标代理有限公司
代理人:高迪
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