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专利名称:校验矩阵生成装置和通信装置专利类型:发明专利发明人:松本涉
申请号:CN200480044145.6申请日:20041008公开号:CN101036300A公开日:20070912
摘要:使用规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于伪随机数置换矩阵的参数,根据计算出的用于伪随机数置换矩阵的参数,使用伪随机数序列和拉丁方阵矩阵,生成伪随机数置换矩阵,使用规定的信息长度、编码率和列最大次数,计算出用于可以使用伪随机数置换矩阵构成的校验矩阵生成的次数分布的最佳化的、可以取得的次数分布的组合的参数,将计算出的可以取得的次数分布的组合作为约束条件使校验矩阵生成的次数分布最佳化,根据经过最佳化后的校验矩阵生成的次数分布,配置生成的伪随机数置换矩阵,生成低密度奇偶校验码用的校验矩阵。
申请人:三菱电机株式会社
地址:日本东京
国籍:JP
代理机构:中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人:吴丽丽
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