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专利名称：接触测试构件及接触测试装置专利类型：实用新型专利发明人：周童
申请号：CN201720606020.2申请日：20170527公开号：CN2070509U公开日：20180227
摘要：本实用新型涉及一种接触测试构件，包括壳体、一接触弹片和至少一传导弹片，各传导弹片均收容于壳体内且依次连接，接触弹片穿设于壳体上且位于壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在壳体的内壁上。另外还涉及一种接触测试装置，包括上述接触测试构件以及用于驱动接触弹片靠近或远离测试位的驱动机构。接触弹片由于是穿设在壳体上，并且由传导弹片压靠抵紧在壳体内，而传导弹片本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片，也可以容许接触弹片插入，从而实现接触弹片可插拔连接在壳体上，方便更换、安装，使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。
申请人：武汉华工正源光子技术有限公司
地址：430223 湖北省武汉市东湖高新技术开发区华中科技大学科技园正源光子产业园
国籍：CN
代理机构：北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人：胡建文
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