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专利名称：存储器测试系统以及存储器测试方法专利类型：发明专利发明人：郑文昌
申请号：CN201310021785.6申请日：20130121公开号：CN103811080A公开日：20140521
摘要：本发明提供一种存储器测试系统以及存储器测试方法。存储器测试系统包括控制单元、数据读取通道、数据写入通道以及测试通道。控制单元产生并输出第一读取指令和第一写入指令。数据读取通道和数据写入通道耦接至存储单元，并且控制单元根据第一读取指令和第一写入指令而分别地在第一时刻从存储单元读取数据且在第二时刻将数据写回至存储单元。测试通道通过输入端从数据读取通道接收数据，且测试通道在一延迟时间之后通过输出端输出数据而返回至数据写入通道。上述时间延迟等于第一时刻与第二时刻之间的时间间隔。
申请人：南亚科技股份有限公司
地址：中国桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号
国籍：CN
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人：臧建明
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