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专利名称：对存储器进行测试的方法及装置专利类型：发明专利发明人：佟兴
申请号：CN201310454507.X申请日：20130929公开号：CN104519516A公开日：20150415
摘要：本发明实施例涉及一种对存储器进行测试的方法及装置。包括：将存储器的第一存储空间存储的第一转发表复制到所述存储器的第二存储空间以得到第二转发表；网络处理器对所述第一存储空间进行测试；将所述第二存储空间存储的转发表复制到所述第一存储空间以得到第三转发表；所述网络处理器访问所述第三转发表，从而有助于有效发现存储器中的故障。
申请人：华为技术有限公司
地址：518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
国籍：CN
代理机构：北京亿腾知识产权代理事务所
代理人：李楠
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